Scanning near-field infrared microspectroscopy on semiconductor structures

Near-field optical microscopy has attracted remarkable attention, as it is the only technique that allows the investigation of local optical properties with a resolution far below the diffraction limit. Especially, the scattering-type near-field optical microscopy allows the nondestructive... Ausführliche Beschreibung

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Weitere Verfasser: [advisor] ; [referee]
Format: Elektronische Hochschulschrift
veröffentlicht: Dresden Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden 2011
Schlagworte:
RVK-Notation: UH 6010 Infrarot-Emissionsspektroskopie
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